粒度分析儀是研究細粒物料(<37～40μ)粒度組成所用的儀器。采用全量程米氏散射理論，充分考慮了分散介質(zhì)和被測顆粒的折射率，結(jié)合專利的測量裝置，根據(jù)大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化來反演出顆粒群的粒度大小和粒度分布規(guī)律。